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印度BIS認(rèn)證、韓國(guó)KC認(rèn)證、國(guó)際電工委員會(huì)CB認(rèn)證等
隨著科技的飛速發(fā)展,電子產(chǎn)品的應(yīng)用范圍愈發(fā)廣泛,各種模塊的性能穩(wěn)定性尤為重要。模塊高低溫測(cè)試作為一種常見(jiàn)的環(huán)境測(cè)試方法,其重要性不可忽視。這種測(cè)試不僅有助于判斷模塊在極端溫度下的性能表現(xiàn),也為生產(chǎn)廠家提供了堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)支…